Siejkowski, Waldemar ; Calderero-Lopez, A. ; Wieder, Thomas ; Gärtner, Helmut (1991)
X-Ray Analysis of Oxidized and Sulfidized Thin Nickel Films.
In: Metalurgia I Odlewnictwo, 17
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1991 |
| Autor(en): | Siejkowski, Waldemar ; Calderero-Lopez, A. ; Wieder, Thomas ; Gärtner, Helmut |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | X-Ray Analysis of Oxidized and Sulfidized Thin Nickel Films |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1991 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Metalurgia I Odlewnictwo |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 17 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 14 Sep 2009 07:03 |
| Letzte Änderung: | 23 Feb 2022 14:46 |
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