Wieder, Thomas ; Thoma, Klaus ; Gärtner, Helmut (1988)
New scattering formula for the analysis of X-ray line broadening by composition profiles.
In: Applied Physics A Solids and Surfaces, 46 (3)
doi: 10.1007/BF00939259
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1988 |
| Autor(en): | Wieder, Thomas ; Thoma, Klaus ; Gärtner, Helmut |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | New scattering formula for the analysis of X-ray line broadening by composition profiles |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1988 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics A Solids and Surfaces |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 46 |
| (Heft-)Nummer: | 3 |
| DOI: | 10.1007/BF00939259 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 14 Sep 2009 06:54 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:23 |
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