Schwalke, Udo (2007)
Structural and Electrical Characterization of Dielectrics, Carbon Nanotubes and Nanoelectronic Devices by Means of Scanning Probe Microscopy.
In: ECS Transactions, 10 (1)
Artikel, Bibliographie
URL / URN: http://dx.doi.org/10.1149/1.2773983
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2007 |
| Autor(en): | Schwalke, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Structural and Electrical Characterization of Dielectrics, Carbon Nanotubes and Nanoelectronic Devices by Means of Scanning Probe Microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 14 September 2007 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | ECS Transactions |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 10 |
| (Heft-)Nummer: | 1 |
| URL / URN: | http://dx.doi.org/10.1149/1.2773983 |
| Zusätzliche Informationen: | The Electrochemical Society Symposium "Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization" (ECS-ALTECH), München, Deutschland, 13.-14.09.2007 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:28 |
| Letzte Änderung: | 08 Mai 2024 08:18 |
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