Schwalke, Udo (2007)
Application of Scanning Probe Microscopy Techniques for Structural and Electrical Characterization of Dielectrics, Carbon Nanotubes and Nanoelectronic Devices.
In: ECS Transactions, 11 (3)
Artikel, Bibliographie
URL / URN: http://dx.doi.org/10.1149/1.2778673
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2007 |
| Autor(en): | Schwalke, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Application of Scanning Probe Microscopy Techniques for Structural and Electrical Characterization of Dielectrics, Carbon Nanotubes and Nanoelectronic Devices |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 12 Oktober 2007 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | ECS Transactions |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 11 |
| (Heft-)Nummer: | 3 |
| Veranstaltungstitel: | 212th Meeting of The Electrochemical Society (ECS) |
| Veranstaltungsort: | Washington DC, USA |
| Veranstaltungsdatum: | 07.-12.10.2007 |
| URL / URN: | http://dx.doi.org/10.1149/1.2778673 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:28 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:23 |
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