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Application of Scanning Probe Microscopy Techniques for Structural and Electrical Characterization of Dielectrics, Carbon Nanotubes and Nanoelectronic Devices

Schwalke, Udo :
Application of Scanning Probe Microscopy Techniques for Structural and Electrical Characterization of Dielectrics, Carbon Nanotubes and Nanoelectronic Devices.
[Online-Edition: http://dx.doi.org/10.1149/1.2778673]
In: ECS Transactions, 11 (3) pp. 301-315.
[Artikel], (2007)

Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1149/1.2778673
Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2007
Autor(en): Schwalke, Udo
Titel: Application of Scanning Probe Microscopy Techniques for Structural and Electrical Characterization of Dielectrics, Carbon Nanotubes and Nanoelectronic Devices
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: ECS Transactions
Band: 11
(Heft-)Nummer: 3
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik
Veranstaltungstitel: 212th Meeting of The Electrochemical Society (ECS)
Veranstaltungsort: Washington DC, USA
Veranstaltungsdatum: 07.-12.10.2007
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:28
Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1149/1.2778673
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