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The use of analytical peak profile functions to fit diffraction data of planar faulted layer crystals

Estevez-Rams, E. ; Penton, A. ; Martinez-Garcia, J. ; Fuess, Hartmut :
The use of analytical peak profile functions to fit diffraction data of planar faulted layer crystals.
In: Crystal research and technology, 40 pp. 166-176.
[Artikel], (2005)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2005
Autor(en): Estevez-Rams, E. ; Penton, A. ; Martinez-Garcia, J. ; Fuess, Hartmut
Titel: The use of analytical peak profile functions to fit diffraction data of planar faulted layer crystals
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Crystal research and technology
Band: 40
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:24
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