Estevez-Rams, E. ; Penton, A. ; Martinez-Garcia, J. ; Fuess, Hartmut (2005)
The use of analytical peak profile functions to fit diffraction data of planar faulted layer crystals.
In: Crystal research and technology, 40
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2005 |
| Autor(en): | Estevez-Rams, E. ; Penton, A. ; Martinez-Garcia, J. ; Fuess, Hartmut |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | The use of analytical peak profile functions to fit diffraction data of planar faulted layer crystals |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2005 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Crystal research and technology |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 40 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:24 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:24 |
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