| Typ des Eintrags: |
Artikel
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| Erschienen: |
2005 |
| Autor(en): |
Sternemann, C. ; Soininen, J. A. ; Volmer, M. ; Hohl, Achim ; Vankó, G. ; Streit, S. ; Tolan, M. |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
X-ray Raman scattering at the Si L II,III-edge of bulk amorphous SiO |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
2005 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: |
Journal of physics and chemistry of solids |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: |
66 |
| Zusätzliche Informationen: |
Zeichendarst. im Sacht. teilw. nicht vorlagegemäß wiedergegeben |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: |
20 Nov 2008 08:21 |
| Letzte Änderung: |
20 Feb 2020 13:25 |
| PPN: |
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| Export: |
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