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SANS examination of precipitate microstructure in the creep-exposed single-crystal Ni-base superalloy SC16

Strunz, P. ; Schumacher, G. ; Chen, W. ; Mukherji, D. ; Gilles, Ralph ; Wiedenmann, A. :
SANS examination of precipitate microstructure in the creep-exposed single-crystal Ni-base superalloy SC16.
In: Applied physics / A, 74 pp. 1083-1085.
[Artikel], (2002)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2002
Autor(en): Strunz, P. ; Schumacher, G. ; Chen, W. ; Mukherji, D. ; Gilles, Ralph ; Wiedenmann, A.
Titel: SANS examination of precipitate microstructure in the creep-exposed single-crystal Ni-base superalloy SC16
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Applied physics / A
Band: 74
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:16
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