Strunz, P. ; Schumacher, G. ; Chen, W. ; Mukherji, D. ; Gilles, Ralph ; Wiedenmann, A. (2002)
SANS examination of precipitate microstructure in the creep-exposed single-crystal Ni-base superalloy SC16.
In: Applied physics / A, 74
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2002 |
| Autor(en): | Strunz, P. ; Schumacher, G. ; Chen, W. ; Mukherji, D. ; Gilles, Ralph ; Wiedenmann, A. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | SANS examination of precipitate microstructure in the creep-exposed single-crystal Ni-base superalloy SC16 |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2002 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied physics / A |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 74 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:16 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:27 |
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