Sydlo, Cezary ; Mottet, B. ; Ganis, H. ; Hartnagel, H. L. ; Krozer, V. ; Delage, S. L. ; Cassette, S. ; Chartier, E. ; Floriot, D. (2001)
Defect detection and modelling using pulsed electrical stress for reliability investigations of InGaP HBT.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2001 |
| Autor(en): | Sydlo, Cezary ; Mottet, B. ; Ganis, H. ; Hartnagel, H. L. ; Krozer, V. ; Delage, S. L. ; Cassette, S. ; Chartier, E. ; Floriot, D. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Defect detection and modelling using pulsed electrical stress for reliability investigations of InGaP HBT |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2001 |
| Ort: | Oxford |
| Verlag: | Pergamon |
| Reihe: | ESREF 2001: European Symposium on Reliability of Electron Devices <12, 2001, Arcachon>: Conference proceedings. Vol. 1, S. 1567-1571. - Oxford : Pergamon, 2001 |
| Zusätzliche Informationen: | Best Paper Award |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:28 |
| Letzte Änderung: | 14 Feb 2019 10:47 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum