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Defect detection and modelling using pulsed electrical stress for reliability investigations of InGaP HBT

Sydlo, Cezary ; Mottet, B. ; Ganis, H. ; Hartnagel, H. L. ; Krozer, V. ; Delage, S. L. ; Cassette, S. ; Chartier, E. ; Floriot, D. :
Defect detection and modelling using pulsed electrical stress for reliability investigations of InGaP HBT.
In: ESREF 2001: European Symposium on Reliability of Electron Devices <12, 2001, Arcachon>: Conference proceedings. Vol. 1, S. 1567-1571. - Oxford : Pergamon, 2001 . Pergamon , Oxford
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2001)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2001
Autor(en): Sydlo, Cezary ; Mottet, B. ; Ganis, H. ; Hartnagel, H. L. ; Krozer, V. ; Delage, S. L. ; Cassette, S. ; Chartier, E. ; Floriot, D.
Titel: Defect detection and modelling using pulsed electrical stress for reliability investigations of InGaP HBT
Sprache: Englisch
Reihe: ESREF 2001: European Symposium on Reliability of Electron Devices <12, 2001, Arcachon>: Conference proceedings. Vol. 1, S. 1567-1571. - Oxford : Pergamon, 2001
Ort: Oxford
Verlag: Pergamon
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:28
Zusätzliche Informationen:

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