Sydlo, Cezary ; Mottet, B. ; Ganis, H. ; Hartnagel, H. L. ; Krozer, V. ; Delage, S. L. ; Cassette, S. ; Chartier, E. ; Floriot, D.
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Defect detection and modelling using pulsed electrical stress for reliability investigations of InGaP HBT.
In: ESREF 2001: European Symposium on Reliability of Electron Devices <12, 2001, Arcachon>: Conference proceedings. Vol. 1, S. 1567-1571. - Oxford : Pergamon, 2001
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Pergamon
, Oxford
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2001)
| Typ des Eintrags: | Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe) |
|---|---|
| Erschienen: | 2001 |
| Autor(en): | Sydlo, Cezary ; Mottet, B. ; Ganis, H. ; Hartnagel, H. L. ; Krozer, V. ; Delage, S. L. ; Cassette, S. ; Chartier, E. ; Floriot, D. |
| Titel: | Defect detection and modelling using pulsed electrical stress for reliability investigations of InGaP HBT |
| Sprache: | Englisch |
| Reihe: | ESREF 2001: European Symposium on Reliability of Electron Devices <12, 2001, Arcachon>: Conference proceedings. Vol. 1, S. 1567-1571. - Oxford : Pergamon, 2001 |
| Ort: | Oxford |
| Verlag: | Pergamon |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:28 |
| Zusätzliche Informationen: | Best Paper Award |
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