Schuessler, M. ; Krozer, V. ; Bock, K. H. ; Brandt, M. ; Vecchi, L. ; Losi, R. ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTs.
In: Microelectronics and reliability, 36 (11-12)
doi: 10.1016/0026-2714(96)00226-0
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1996 |
| Autor(en): | Schuessler, M. ; Krozer, V. ; Bock, K. H. ; Brandt, M. ; Vecchi, L. ; Losi, R. ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTs |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1996 |
| Ort: | Amsterdam |
| Verlag: | Elsevier |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Microelectronics and reliability |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 36 |
| (Heft-)Nummer: | 11-12 |
| DOI: | 10.1016/0026-2714(96)00226-0 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:23 |
| Letzte Änderung: | 23 Apr 2024 14:09 |
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