Manca, J. ; Croes, K. ; De Ceuninck, W. ; De Schepper, L. ; Dieval, B. ; Hartnagel, H. L.
Hrsg.: Papanicolaou, Nick ; Naval Research Laboratory (2000)
High temperature time dependent dielectric breakdown of power MOSFETs.
In: Reliabiblity, lifetime and testing : session V
Buchkapitel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Buchkapitel |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Herausgeber: | Papanicolaou, Nick |
| Autor(en): | Manca, J. ; Croes, K. ; De Ceuninck, W. ; De Schepper, L. ; Dieval, B. ; Hartnagel, H. L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | High temperature time dependent dielectric breakdown of power MOSFETs |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2000 |
| Buchtitel: | Reliabiblity, lifetime and testing : session V |
| URL / URN: | https://www.academia.edu/25577544/Reliability_of_Commercial_... |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:22 |
| Letzte Änderung: | 14 Sep 2021 10:34 |
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