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High temperature time dependent dielectric breakdown of power MOSFET's

Manca, J. ; Croes, K. ; DeCeunink, W. ; DeSchepper, L. ; Dieval, B. ; Hartnagel, H. L. :
High temperature time dependent dielectric breakdown of power MOSFET's.
In: The circuit breaker
[Anderes], (2000)

Typ des Eintrags: Anderes
Erschienen: 2000
Autor(en): Manca, J. ; Croes, K. ; DeCeunink, W. ; DeSchepper, L. ; Dieval, B. ; Hartnagel, H. L.
Titel: High temperature time dependent dielectric breakdown of power MOSFET's
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: The circuit breaker
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:22
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