Fritsche, J. ; Schulmeyer, T. ; Kraft, D. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, Wolfram (2021)
Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces.
In: Applied Physics Letters, 2002, 81 (12)
doi: 10.26083/tuprints-00019886
Artikel, Zweitveröffentlichung, Verlagsversion
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URL / URN: https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/19886
Kurzbeschreibung (Abstract)
The band alignment at polycrystalline CdS/CdTe heterointerfaces for thin-film solar cells is determined by photoelectron spectroscopy from stepwise CdTe deposition on polycrystalline CdS substrates and from subsequent sputter depth profiling. Identical values of 0.94±0.05 eV for the valence band offset are obtained.
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2021 |
| Autor(en): | Fritsche, J. ; Schulmeyer, T. ; Kraft, D. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, Wolfram |
| Art des Eintrags: | Zweitveröffentlichung |
| Titel: | Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2021 |
| Publikationsdatum der Erstveröffentlichung: | 2002 |
| Verlag: | AIP Publishing |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 81 |
| (Heft-)Nummer: | 12 |
| DOI: | 10.26083/tuprints-00019886 |
| URL / URN: | https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/19886 |
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| Herkunft: | Zweitveröffentlichungsservice |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | The band alignment at polycrystalline CdS/CdTe heterointerfaces for thin-film solar cells is determined by photoelectron spectroscopy from stepwise CdTe deposition on polycrystalline CdS substrates and from subsequent sputter depth profiling. Identical values of 0.94±0.05 eV for the valence band offset are obtained. |
| Status: | Verlagsversion |
| URN: | urn:nbn:de:tuda-tuprints-198860 |
| Sachgruppe der Dewey Dezimalklassifikatin (DDC): | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 12 Nov 2021 13:42 |
| Letzte Änderung: | 15 Nov 2021 06:53 |
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- Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces. (deposited 12 Nov 2021 13:42) [Gegenwärtig angezeigt]
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