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Birth of a grain boundary: In situ TEM Observation of the Microstructure Evolution in HfO2 Based Memristors

Eilhardt, Robert ; Zintler, Alexander ; Recalde, Oscar ; Nasiou, Déspina ; Petzold, Stefan ; Alff, Lambert ; Molina-Luna, Leopoldo (2021)
Birth of a grain boundary: In situ TEM Observation of the Microstructure Evolution in HfO2 Based Memristors.
In: Microscopy and Microanalysis, 27 (S1)
doi: 10.1017/S1431927621004645
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2021
Autor(en): Eilhardt, Robert ; Zintler, Alexander ; Recalde, Oscar ; Nasiou, Déspina ; Petzold, Stefan ; Alff, Lambert ; Molina-Luna, Leopoldo
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Birth of a grain boundary: In situ TEM Observation of the Microstructure Evolution in HfO2 Based Memristors
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 30 Juli 2021
Verlag: Cambridge University Press
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Microscopy and Microanalysis
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 27
(Heft-)Nummer: S1
DOI: 10.1017/S1431927621004645
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenmikroskopie
Hinterlegungsdatum: 05 Aug 2021 05:18
Letzte Änderung: 05 Aug 2021 05:18
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