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Electron Beam Effects on Oxide Thin Films—Structure and Electrical Property Correlations

Neelisetty, Krishna Kanth ; Mu, Xiaoke ; Gutsch, Sebastian ; Vahl, Alexander ; Molinari, Alan ; Seggern, Falk von ; Hansen, Mirko ; Scherer, Torsten ; Zacharias, Margit ; Kienle, Lorenz ; Chakravadhanula, V. S. Kiran ; Kübel, Christian (2019)
Electron Beam Effects on Oxide Thin Films—Structure and Electrical Property Correlations.
In: Microscopy and Microanalysis, 25 (3)
doi: 10.1017/S1431927619000175
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2019
Autor(en): Neelisetty, Krishna Kanth ; Mu, Xiaoke ; Gutsch, Sebastian ; Vahl, Alexander ; Molinari, Alan ; Seggern, Falk von ; Hansen, Mirko ; Scherer, Torsten ; Zacharias, Margit ; Kienle, Lorenz ; Chakravadhanula, V. S. Kiran ; Kübel, Christian
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Electron Beam Effects on Oxide Thin Films—Structure and Electrical Property Correlations
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 4 März 2019
Verlag: Cambridge University Press
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Microscopy and Microanalysis
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 25
(Heft-)Nummer: 3
DOI: 10.1017/S1431927619000175
URL / URN: https://doi.org/10.1017/S1431927619000175
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > In-Situ Elektronenmikroskopie
Hinterlegungsdatum: 29 Mai 2020 08:15
Letzte Änderung: 28 Feb 2022 12:30
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