Neelisetty, Krishna Kanth ; Mu, Xiaoke ; Gutsch, Sebastian ; Vahl, Alexander ; Molinari, Alan ; Seggern, Falk von ; Hansen, Mirko ; Scherer, Torsten ; Zacharias, Margit ; Kienle, Lorenz ; Chakravadhanula, V. S. Kiran ; Kübel, Christian (2019)
Electron Beam Effects on Oxide Thin Films—Structure and Electrical Property Correlations.
In: Microscopy and Microanalysis, 25 (3)
doi: 10.1017/S1431927619000175
Artikel, Bibliographie
URL / URN: https://doi.org/10.1017/S1431927619000175
Typ des Eintrags: | Artikel |
---|---|
Erschienen: | 2019 |
Autor(en): | Neelisetty, Krishna Kanth ; Mu, Xiaoke ; Gutsch, Sebastian ; Vahl, Alexander ; Molinari, Alan ; Seggern, Falk von ; Hansen, Mirko ; Scherer, Torsten ; Zacharias, Margit ; Kienle, Lorenz ; Chakravadhanula, V. S. Kiran ; Kübel, Christian |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Electron Beam Effects on Oxide Thin Films—Structure and Electrical Property Correlations |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 4 März 2019 |
Verlag: | Cambridge University Press |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Microscopy and Microanalysis |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 25 |
(Heft-)Nummer: | 3 |
DOI: | 10.1017/S1431927619000175 |
URL / URN: | https://doi.org/10.1017/S1431927619000175 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > In-Situ Elektronenmikroskopie |
Hinterlegungsdatum: | 29 Mai 2020 08:15 |
Letzte Änderung: | 28 Feb 2022 12:30 |
PPN: | |
Export: | |
Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen |