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Role of oxygen defects in forming conductive filaments in Y2O3-based analog RRAM devices as revealed by fluctuation spectroscopy

Piros, Eszter ; Lonsky, Martin ; Petzold, Martin ; Zintler, Alexander ; Sharath, S.U. ; Vogel, Tobias ; Kaiser, Nico ; Eilhardt, Robert ; Molina-Luna, Leopoldo ; Wenger, Christian ; Müller, Jens ; Alff, Lambert (2020)
Role of oxygen defects in forming conductive filaments in Y2O3-based analog RRAM devices as revealed by fluctuation spectroscopy.
In: Physical Review Applied
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2020
Autor(en): Piros, Eszter ; Lonsky, Martin ; Petzold, Martin ; Zintler, Alexander ; Sharath, S.U. ; Vogel, Tobias ; Kaiser, Nico ; Eilhardt, Robert ; Molina-Luna, Leopoldo ; Wenger, Christian ; Müller, Jens ; Alff, Lambert
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Role of oxygen defects in forming conductive filaments in Y2O3-based analog RRAM devices as revealed by fluctuation spectroscopy
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 8 Mai 2020
Verlag: APS Publishing
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Physical Review Applied
URL / URN: https://journals.aps.org/prapplied/accepted/86072YacA411cc69...
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenmikroskopie
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Dünne Schichten
Hinterlegungsdatum: 20 Mai 2020 07:03
Letzte Änderung: 20 Mai 2020 07:03
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