Killat, Dirk ; Kluge, Johannes von ; Umbach, Frank ; Langheinrich, Werner ; Schmitz, Richard (1997)
Measurement and modelling of sensitivity and noise of MOS magnetic field effect transistors.
In: Sensors and Actuators A : Physical, 61 (1-3)
doi: 10.1016/S0924-4247(97)80286-5
Artikel, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
The characteristics of magnetic field-sensitive split-drain MOSFETs (MAGFETs) have been experimentally measured. The sensitivity depends on the geometry and the operating point of the MAGFET. Particular attention is paid to the lateral parasitic conductance between the split drains. The equivalent spectral noise density of the magnetic flux density is measured. Additionally, a macro-model of the MAGFET has been developed for SPICE.
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1997 |
| Autor(en): | Killat, Dirk ; Kluge, Johannes von ; Umbach, Frank ; Langheinrich, Werner ; Schmitz, Richard |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Measurement and modelling of sensitivity and noise of MOS magnetic field effect transistors |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1 Juni 1997 |
| Verlag: | Elsevier |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Sensors and Actuators A : Physical |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 61 |
| (Heft-)Nummer: | 1-3 |
| DOI: | 10.1016/S0924-4247(97)80286-5 |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | The characteristics of magnetic field-sensitive split-drain MOSFETs (MAGFETs) have been experimentally measured. The sensitivity depends on the geometry and the operating point of the MAGFET. Particular attention is paid to the lateral parasitic conductance between the split drains. The equivalent spectral noise density of the magnetic flux density is measured. Additionally, a macro-model of the MAGFET has been developed for SPICE. |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 15:55 |
| Letzte Änderung: | 20 Jul 2023 11:21 |
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