Noll, Dennis ; Schwalke, Udo (2019)
Reliability issues and length dependence of nanocrystalline graphene field-effect transistors for gas sensing.
14th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era (DTIS). (16.04.2019-18.04.2019)
doi: 10.1109/DTIS.2019.8734953
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2019 |
| Autor(en): | Noll, Dennis ; Schwalke, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Reliability issues and length dependence of nanocrystalline graphene field-effect transistors for gas sensing |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 16 April 2019 |
| Ort: | Mykonos, Greece |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | 2019 14th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era (DTIS) |
| Veranstaltungstitel: | 14th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era (DTIS) |
| Veranstaltungsdatum: | 16.04.2019-18.04.2019 |
| DOI: | 10.1109/DTIS.2019.8734953 |
| URL / URN: | https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/8734953 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 30 Jul 2019 09:23 |
| Letzte Änderung: | 30 Jul 2019 09:23 |
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