Noll, Dennis ; Schwalke, Udo (2018)
Yield and Reliability of Nanocrystalline Graphene Field-Effect Gas Sensors.
AiMES 2018 -The Americas International Meeting on Electrochemistry and Solid State Science. Cancun, Mexico (30.09.2018-04.10.2018)
doi: 10.1149/08609.0041ecst
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2018 |
| Autor(en): | Noll, Dennis ; Schwalke, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Yield and Reliability of Nanocrystalline Graphene Field-Effect Gas Sensors |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2018 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | ECS Transactions, 86 (9) pp. 41 - 49 |
| Veranstaltungstitel: | AiMES 2018 -The Americas International Meeting on Electrochemistry and Solid State Science |
| Veranstaltungsort: | Cancun, Mexico |
| Veranstaltungsdatum: | 30.09.2018-04.10.2018 |
| DOI: | 10.1149/08609.0041ecst |
| URL / URN: | http://ecst.ecsdl.org/content/86/9/41.abstract?sid=1c3d40c0-... |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 30 Jul 2019 09:34 |
| Letzte Änderung: | 22 Jul 2020 14:43 |
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