Noll, Dennis ; Schwalke, Udo (2016)
Investigation of Transfer-free Catalytic CVD Graphene on SiO2 by Means of Conductive Atomic Force Microscopy.
11th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS). Istanbul, Turkey (12.04.2016-14.04.2016)
doi: 10.1109/DTIS.2016.7483899
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
URL / URN: https://ieeexplore.ieee.org/document/7483899
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2016 |
| Autor(en): | Noll, Dennis ; Schwalke, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Investigation of Transfer-free Catalytic CVD Graphene on SiO2 by Means of Conductive Atomic Force Microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2016 |
| Ort: | Istanbul, Turkey |
| Veranstaltungstitel: | 11th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) |
| Veranstaltungsort: | Istanbul, Turkey |
| Veranstaltungsdatum: | 12.04.2016-14.04.2016 |
| DOI: | 10.1109/DTIS.2016.7483899 |
| URL / URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/7483899 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 30 Jul 2019 09:33 |
| Letzte Änderung: | 30 Jul 2019 09:33 |
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