Krottenthaler, M. ; Schmid, Christoph ; Schaufler, J. ; Durst, Karsten ; Göken, M. (2013)
A simple method for residual stress measurements in thin films by means of focused ion beam milling and digital image correlation.
In: Surface and Coatings Technology, (215)
doi: 10.1016/j.surfcoat.2012.08.095
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2013 |
| Autor(en): | Krottenthaler, M. ; Schmid, Christoph ; Schaufler, J. ; Durst, Karsten ; Göken, M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | A simple method for residual stress measurements in thin films by means of focused ion beam milling and digital image correlation |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2013 |
| Verlag: | Elsevier Science Publishing Company |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Surface and Coatings Technology |
| (Heft-)Nummer: | 215 |
| DOI: | 10.1016/j.surfcoat.2012.08.095 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Physikalische Metallkunde |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Jul 2018 11:26 |
| Letzte Änderung: | 19 Jul 2018 11:26 |
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