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Schmiedgen, M. ; Baretzky, B. ; Schminke, A. ; Schmidt, H.
Hrsg.: Olefjord, Ingemar (1997)
X-ray photoelectron spectroscopy characterization of ion-implanted Ti6Al4V.
7th European Conference on Application of Surface and Interface Analysis. Göteborg (June 16-20 1997)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie