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Bender, Carmen (1995):
Verfahren zur Verifizierung geringer Belegungsschichten von deponierten Analyten in bzw. auf Wafern mittels Röntgenfluoreszenzspektrometrie.
Darmstadt: 1995. 181 Bl., Darmstadt, Technische Univ. Darmstadt, TU Darmstadt,
[Ph.D. Thesis]