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Simulation of bipolar-type resistive switching devices using a recursive approach to the dynamic memdiode model

Miranda, E. ; Piros, E. ; Aguirre, F. L. ; Kim, T. ; Schreyer, P. ; Gehrunger, J. ; Oster, T. ; Hofmann, K. ; Suñé, J. ; Hochberger, C. ; Alff, L. (2023)
Simulation of bipolar-type resistive switching devices using a recursive approach to the dynamic memdiode model.
In: IEEE Electron Device Letters, 44 (9)
doi: 10.1109/LED.2023.3298023
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2023
Autor(en): Miranda, E. ; Piros, E. ; Aguirre, F. L. ; Kim, T. ; Schreyer, P. ; Gehrunger, J. ; Oster, T. ; Hofmann, K. ; Suñé, J. ; Hochberger, C. ; Alff, L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Simulation of bipolar-type resistive switching devices using a recursive approach to the dynamic memdiode model
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 24 Juli 2023
Ort: New York, NY
Verlag: IEEE
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: IEEE Electron Device Letters
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 44
(Heft-)Nummer: 9
DOI: 10.1109/LED.2023.3298023
Freie Schlagworte: mathematical models, voltage, switches, differential equations, integrated circuit modeling, resistance, numerical models, memristor, resistive switching, ReRAM, OxRAM
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Dünne Schichten
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Rechnersysteme
Hinterlegungsdatum: 13 Mär 2024 06:44
Letzte Änderung: 14 Mär 2024 07:26
PPN: 516286935
Export:
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