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Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces

Fritsche, J. ; Schulmeyer, T. ; Kraft, D. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2002)
Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces.
In: Applied Physics Letters, 81 (12)
doi: 10.1063/1.1507830
Artikel, Bibliographie

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Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2002
Autor(en): Fritsche, J. ; Schulmeyer, T. ; Kraft, D. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 9 September 2002
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Applied Physics Letters
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 81
(Heft-)Nummer: 12
DOI: 10.1063/1.1507830
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Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung
Hinterlegungsdatum: 21 Feb 2015 15:36
Letzte Änderung: 03 Jul 2024 02:22
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