Philipp, Gebhart ; Riehl, David ; Hofmann, Klaus (2024)
Design and Validation of an FPGA Adapter Board for High-Speed Testing of DRAM Memory ICs.
36. Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2024). Darmstadt, Germany (25.-27.02.2024)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Riehl, David ; Philipp, Gebhart ; Klaus, Hofmann (2022)
An Automated Test Approach for Measuring the Degradation of Individual Contacts in BGA Sockets.
34. Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022). Bremerhaven, Germany (27.02.2022-01.03.2022)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie