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Kizler, P. ; Kleebe, H.-J. ; Aldinger, F. ; Ruhle, M. (1997)
Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) study of secondary phases in Yb2O3-doped Si3N4 ceramics.
In: Journal of Materials Science, 32 (2)
doi: 10.1023/a:1018501316195
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