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Anzahl der Einträge: 9.

Smith, Neil ; Moehrle, Nils ; Goesele, Michael ; Heidrich, Wolfgang (2018)
Aerial Path Planning for Urban Scene Reconstruction - A Continuous Optimization Method and Benchmark.
In: ACM Transactions on Graphics (Proceedings of SIGGRAPH Asia)
doi: 10.1145/3272127.3275010
Artikel, Bibliographie

Goesele, Michael ; Heidrich, Wolfgang (2011)
Image-Based Measurement of Light Sources With Correct Filtering.
Report, Bibliographie

Myszkowski, Karol ; Heidrich, Wolfgang ; Goesele, Michael ; Höflinger, Bernd ; Krawczyk, Grzegorz ; Trentacoste, Matthew (2005)
High Dynamic Range Techniques in Graphics : From Acquisition to Display.
Veranstaltung: Eurographics 2005 : Tutorial.
doi: 10.2312/egt.20051056
Vorlesung, Seminar, Lehrmaterial, Bibliographie

Goesele, Michael ; Granier, Xavier ; Heidrich, Wolfgang ; Seidel, Hans-Peter (2003)
Accurate Light Source Acquisition and Rendering.
In: ACM Transactions on Graphics (Proceedings of ACM SIGGRAPH 2003), 22 (3)
Artikel, Bibliographie

Granier, Xavier ; Goesele, Michael ; Heidrich, Wolfgang ; Seidel, Hans-Peter (2003)
Interactive Visualization of Complex Real-World Light Sources.
Computer Graphics and Applications, 2003. Proceedings. 11th Pacific Conference on.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Goesele, Michael ; Heidrich, Wolfgang ; Seidel, Hans-Peter (2001)
Color Calibrated High Dynamic Range Imaging with ICC Profiles.
Scottsdale, Arizona, USA (06.11.2001-09.11.2001)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Goesele, Michael ; Heidrich, Wolfgang ; Seidel, Hans-Peter (2001)
Entropy-Based Dark Frame Subtraction.
Montreal, Quebec, Canada (22.04.2001-25.04.2001)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Lensch, Hendrik P. A. ; Kautz, Jan ; Goesele, Michael ; Heidrich, Wolfgang ; Seidel, Hans-Peter (2001)
Image-Based Reconstruction of Spatially Varying Materials.
London, Great Britain (25.06.2001-27.06.2001)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Goesele, Michael ; Heidrich, Wolfgang ; Lensch, Hendrik P. A. ; Seidel, Hans-Peter (2000)
Building a Photo Studio for Measurement Purposes.
Saarbrücken, Germany (22.11.2000-24.11.2000)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

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