Gottwald, P. ; Riemenschneider, R. ; Szentpali, B. ; Hartnagel, H. L. ; Kincses, Z. ; Ruszinko, M. (1995)
Comparison of photo- and plasma-assisted passivating process effects on GaAs devices by means of low-frequency noise measurements.
In: Solid state electronics, 38 (2)
doi: 10.1016/0038-1101(94)00100-T
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1995 |
| Autor(en): | Gottwald, P. ; Riemenschneider, R. ; Szentpali, B. ; Hartnagel, H. L. ; Kincses, Z. ; Ruszinko, M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Comparison of photo- and plasma-assisted passivating process effects on GaAs devices by means of low-frequency noise measurements |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1995 |
| Verlag: | Elsevier |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Solid state electronics |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 38 |
| (Heft-)Nummer: | 2 |
| DOI: | 10.1016/0038-1101(94)00100-T |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:05 |
| Letzte Änderung: | 24 Feb 2022 12:33 |
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