Jennewein, Holger ; Gottschling, H. ; Ganz, T. ; Tschudi, Theo (1999)
Interferometrical profilometry at surfaces with varying materials.
In: SPIE (Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers) Proceedings
Buchkapitel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Buchkapitel |
|---|---|
| Erschienen: | 1999 |
| Autor(en): | Jennewein, Holger ; Gottschling, H. ; Ganz, T. ; Tschudi, Theo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Interferometrical profilometry at surfaces with varying materials |
| Sprache: | Deutsch |
| Publikationsjahr: | 1999 |
| Buchtitel: | SPIE (Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers) Proceedings |
| Reihe: | SPIE (Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers) Proceedings |
| Band einer Reihe: | 3677 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 05 Fachbereich Physik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:05 |
| Letzte Änderung: | 24 Sep 2024 09:02 |
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