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High-resolution X-ray diffraction study of free-standing gallium arsenide coiled membrane force sensors produced by micromachining

Lal, K. ; Goswami, N. ; Miao, J. ; Hartnagel, H. L. (1999)
High-resolution X-ray diffraction study of free-standing gallium arsenide coiled membrane force sensors produced by micromachining.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1999
Autor(en): Lal, K. ; Goswami, N. ; Miao, J. ; Hartnagel, H. L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: High-resolution X-ray diffraction study of free-standing gallium arsenide coiled membrane force sensors produced by micromachining
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1999
Reihe: Indo-Russian Workshop on Micromechanical Systems = SPIE Proceedings. Vol. 3903 (1999)
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:05
Letzte Änderung: 14 Feb 2019 10:47
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