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High-resolution X-ray diffraction study of free-standing gallium arsenide coiled membrane force sensors produced by micromachining

Lal, K. ; Goswami, N. ; Miao, J. ; Hartnagel, H. L. (1999)
High-resolution X-ray diffraction study of free-standing gallium arsenide coiled membrane force sensors produced by micromachining.
In: Indo-Russian Workshop on Micromechanical Systems
Buchkapitel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Buchkapitel
Erschienen: 1999
Autor(en): Lal, K. ; Goswami, N. ; Miao, J. ; Hartnagel, H. L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: High-resolution X-ray diffraction study of free-standing gallium arsenide coiled membrane force sensors produced by micromachining
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1999
Buchtitel: Indo-Russian Workshop on Micromechanical Systems
Reihe: SPIE Proceedings
Band einer Reihe: 3903
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:05
Letzte Änderung: 24 Sep 2024 09:27
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