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Determination of crystalline perfection and lattice-mismatch between gallium antimonide epitaxial films and gallium arsenide substrates

Niranjana, S. ; Goswami, S. N. N. ; Lal, K. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, Hans L.
Hrsg.: Kumar, Vikram (1997)
Determination of crystalline perfection and lattice-mismatch between gallium antimonide epitaxial films and gallium arsenide substrates.
9. International Workshop on Physics of Semiconductor Devices. New Delhi, India (16.12.1997-20.12.1997)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1997
Herausgeber: Kumar, Vikram
Autor(en): Niranjana, S. ; Goswami, S. N. N. ; Lal, K. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, Hans L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Determination of crystalline perfection and lattice-mismatch between gallium antimonide epitaxial films and gallium arsenide substrates
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1997
Ort: New Delhi
Verlag: Narosa Publ. House
Buchtitel: Physics of semiconductor devices, Vol. 1
Reihe: SPIE proceedings series
Band einer Reihe: 3316
Veranstaltungstitel: 9. International Workshop on Physics of Semiconductor Devices
Veranstaltungsort: New Delhi, India
Veranstaltungsdatum: 16.12.1997-20.12.1997
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
Letzte Änderung: 12 Dez 2023 12:45
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