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Nanoelectronic COupled problems solutions - nanoCOPS: modelling, multirate, model order reduction, uncertainty quantification, fast fault simulation

ter Maten, E. Jan W. ; Schöps, Sebastian ; Duque, David ; Casper, Thorben ; De Gersem, Herbert ; Römer, Ulrich :
Nanoelectronic COupled problems solutions - nanoCOPS: modelling, multirate, model order reduction, uncertainty quantification, fast fault simulation.
[Online-Edition: https://dx.doi.org/10.1186/s13362-016-0025-5]
In: Journal of Mathematics in Industry, 7 (2) ISSN 2190-5983
[Artikel], (2016)

Offizielle URL: https://dx.doi.org/10.1186/s13362-016-0025-5
Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2016
Autor(en): ter Maten, E. Jan W. ; Schöps, Sebastian ; Duque, David ; Casper, Thorben ; De Gersem, Herbert ; Römer, Ulrich
Titel: Nanoelectronic COupled problems solutions - nanoCOPS: modelling, multirate, model order reduction, uncertainty quantification, fast fault simulation
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of Mathematics in Industry
Band: 7
(Heft-)Nummer: 2
Verlag: Springer
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Theorie Elektromagnetischer Felder
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Theorie Elektromagnetischer Felder > Computational Engineering
Exzellenzinitiative
Exzellenzinitiative > Graduiertenschulen
Exzellenzinitiative > Graduiertenschulen > Graduate School of Computational Engineering (CE)
Hinterlegungsdatum: 04 Apr 2017 15:24
Offizielle URL: https://dx.doi.org/10.1186/s13362-016-0025-5
Zusätzliche Informationen:

TEMF-Pub-DB TEMF002593

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