Nanoelectronic COupled problems solutions - nanoCOPS: modelling, multirate, model order reduction, uncertainty quantification, fast fault simulation

Typ des Eintrags:	Artikel
Erschienen:	2016
Autor(en):	ter Maten, E. Jan W. ; Schöps, Sebastian ; Duque, David ; Casper, Thorben ; De Gersem, Herbert ; Römer, Ulrich
Titel:	Nanoelectronic COupled problems solutions - nanoCOPS: modelling, multirate, model order reduction, uncertainty quantification, fast fault simulation
Sprache:	Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe:	Journal of Mathematics in Industry
Band:	7
(Heft-)Nummer:	2
Verlag:	Springer
Fachbereich(e)/-gebiet(e):	18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Theorie Elektromagnetischer Felder 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Theorie Elektromagnetischer Felder > Computational Engineering Exzellenzinitiative Exzellenzinitiative > Graduiertenschulen Exzellenzinitiative > Graduiertenschulen > Graduate School of Computational Engineering (CE)
Hinterlegungsdatum:	04 Apr 2017 15:24
Offizielle URL:	https://dx.doi.org/10.1186/s13362-016-0025-5
Zusätzliche Informationen:	TEMF-Pub-DB TEMF002593
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