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Comparison of MESFET, HEMT, and HBT device performance at high temperatures

Fricke, K. ; Krozer, ; Schüßler, :
Comparison of MESFET, HEMT, and HBT device performance at high temperatures.
In: High - Temperature Electronics Conference <1996, Albuquerque, NM, USA>: Proceedings .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1996)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1996
Autor(en): Fricke, K. ; Krozer, ; Schüßler,
Titel: Comparison of MESFET, HEMT, and HBT device performance at high temperatures
Sprache: Englisch
Reihe: High - Temperature Electronics Conference <1996, Albuquerque, NM, USA>: Proceedings
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
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