Reuling, Dennis ; Bürdek, Johannes ; Rotärmel, Serge ; Lochau, Malte ; Kelter, Udo (2015)
Fault-based product-line testing: effective sample generation based on feature-diagram mutation.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
URL / URN: http://doi.acm.org/10.1145/2791060.2791074
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2015 |
| Autor(en): | Reuling, Dennis ; Bürdek, Johannes ; Rotärmel, Serge ; Lochau, Malte ; Kelter, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Fault-based product-line testing: effective sample generation based on feature-diagram mutation |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2015 |
| Buchtitel: | Proceedings of the 19th International Conference on Software Product Line (SPLC) |
| URL / URN: | http://doi.acm.org/10.1145/2791060.2791074 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Echtzeitsysteme 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik |
| Hinterlegungsdatum: | 15 Feb 2016 20:34 |
| Letzte Änderung: | 15 Feb 2016 20:34 |
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