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Characterization of the Dielectric Breakdown Field Strength of PDMS Thin Films: Thickness Dependence and Electrode Shape

Förster-Zügel, Florentine ; Grotepaß, Tanja ; Schlaak, Helmut F. (2015)
Characterization of the Dielectric Breakdown Field Strength of PDMS Thin Films: Thickness Dependence and Electrode Shape.
Smart Structures / NDE. Electroactive Polymer Actuators and Devices (EAPAD) 2015. San Diego, US
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2015
Autor(en): Förster-Zügel, Florentine ; Grotepaß, Tanja ; Schlaak, Helmut F.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Characterization of the Dielectric Breakdown Field Strength of PDMS Thin Films: Thickness Dependence and Electrode Shape
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: März 2015
Buchtitel: Proceedings of SPIE
Band einer Reihe: 9430
Veranstaltungstitel: Smart Structures / NDE. Electroactive Polymer Actuators and Devices (EAPAD) 2015
Veranstaltungsort: San Diego, US
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrotechnik und Elektromechanische Systeme
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018)
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 03 Nov 2015 09:26
Letzte Änderung: 03 Nov 2015 09:26
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