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Time-Resolved Synchrotron XPS Monitoring of Irradiation-Induced Nitrobenzene Reduction for Chemical Lithography

Roodenko, K. ; Gensch, M. ; Rappich, J. ; Hinrichs, K. ; Esser, N. ; Hunger, R. (2007)
Time-Resolved Synchrotron XPS Monitoring of Irradiation-Induced Nitrobenzene Reduction for Chemical Lithography.
In: The Journal of Physical Chemistry B, 111 (26)
doi: 10.1021/jp072440j
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2007
Autor(en): Roodenko, K. ; Gensch, M. ; Rappich, J. ; Hinrichs, K. ; Esser, N. ; Hunger, R.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Time-Resolved Synchrotron XPS Monitoring of Irradiation-Induced Nitrobenzene Reduction for Chemical Lithography
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2007
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: The Journal of Physical Chemistry B
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 111
(Heft-)Nummer: 26
DOI: 10.1021/jp072440j
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung
Hinterlegungsdatum: 23 Mär 2015 18:00
Letzte Änderung: 23 Mär 2015 18:00
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