Fritsche, J. ; Schulmeyer, T. ; Kraft, D. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2002)
Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces.
In: Applied Physics Letters, 81 (12)
doi: 10.1063/1.1507830
Artikel, Bibliographie
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| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2002 |
| Autor(en): | Fritsche, J. ; Schulmeyer, T. ; Kraft, D. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 9 September 2002 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 81 |
| (Heft-)Nummer: | 12 |
| DOI: | 10.1063/1.1507830 |
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| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 21 Feb 2015 15:36 |
| Letzte Änderung: | 03 Jul 2024 02:22 |
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
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Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces. (deposited 12 Nov 2021 13:42)
- Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces. (deposited 21 Feb 2015 15:36) [Gegenwärtig angezeigt]
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