Saive, Rebecca ; Ullrich, Florian ; Müller, Lars ; Scherer, Michael ; Daume, Dominik ; Kröger, Michael ; Kowalsky, Wolfgang (2012)
Scanning Kelvin Probe Microscopy on FIB-milled crosssections in organic semiconductor devices.
DPG conference. Berlin, Germany (25.03.2012-30.03.2012)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2012 |
| Autor(en): | Saive, Rebecca ; Ullrich, Florian ; Müller, Lars ; Scherer, Michael ; Daume, Dominik ; Kröger, Michael ; Kowalsky, Wolfgang |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Scanning Kelvin Probe Microscopy on FIB-milled crosssections in organic semiconductor devices |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2012 |
| Veranstaltungstitel: | DPG conference |
| Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
| Veranstaltungsdatum: | 25.03.2012-30.03.2012 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 16 Fachbereich Maschinenbau > Institut für Druckmaschinen und Druckverfahren (IDD) 16 Fachbereich Maschinenbau |
| Hinterlegungsdatum: | 06 Nov 2013 07:00 |
| Letzte Änderung: | 06 Nov 2013 07:00 |
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