Fritz, Christian ; Arzt, Steven ; Rasthofer, Siegfried ; Bodden, Eric ; Bartel, Alexandre ; Klein, Jacques ; le Traon, Yves ; Octeau, Damien ; McDaniel, Patrick (2013)
Highly Precise Taint Analysis for Android Applications.
Report, Bibliographie
 | Es ist eine neuere Version dieses Eintrags verfügbar. |
| Typ des Eintrags: | Report |
|---|---|
| Erschienen: | 2013 |
| Autor(en): | Fritz, Christian ; Arzt, Steven ; Rasthofer, Siegfried ; Bodden, Eric ; Bartel, Alexandre ; Klein, Jacques ; le Traon, Yves ; Octeau, Damien ; McDaniel, Patrick |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Highly Precise Taint Analysis for Android Applications |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 8 Mai 2013 |
| URL / URN: | http://www.informatik.tu-darmstadt.de/fileadmin/user_upload/... |
| ID-Nummer: | TUD-CS-2013-0113 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 20 Fachbereich Informatik LOEWE LOEWE > LOEWE-Zentren Zentrale Einrichtungen LOEWE > LOEWE-Zentren > CASED – Center for Advanced Security Research Darmstadt 20 Fachbereich Informatik > EC SPRIDE 20 Fachbereich Informatik > EC SPRIDE > Secure Software Engineering |
| Hinterlegungsdatum: | 13 Mai 2013 13:59 |
| Letzte Änderung: | 26 Aug 2018 21:28 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
Verfügbare Versionen dieses Eintrags
- Highly Precise Taint Analysis for Android Applications. (deposited 13 Mai 2013 13:59) [Gegenwärtig angezeigt]
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum