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Highly Precise Taint Analysis for Android Applications

Fritz, Christian ; Arzt, Steven ; Rasthofer, Siegfried ; Bodden, Eric ; Bartel, Alexandre ; Klein, Jacques ; Le Traon, Yves ; Octeau, Damien ; McDaniel, Patrick :
Highly Precise Taint Analysis for Android Applications.
[Online-Edition: http://www.informatik.tu-darmstadt.de/fileadmin/user_upload/...]

[Report] , (2013)

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Offizielle URL: http://www.informatik.tu-darmstadt.de/fileadmin/user_upload/...
Typ des Eintrags: Report
Erschienen: 2013
Autor(en): Fritz, Christian ; Arzt, Steven ; Rasthofer, Siegfried ; Bodden, Eric ; Bartel, Alexandre ; Klein, Jacques ; Le Traon, Yves ; Octeau, Damien ; McDaniel, Patrick
Titel: Highly Precise Taint Analysis for Android Applications
Sprache: Englisch
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 20 Fachbereich Informatik
LOEWE
LOEWE > LOEWE-Zentren
Zentrale Einrichtungen
LOEWE > LOEWE-Zentren > CASED – Center for Advanced Security Research Darmstadt
20 Fachbereich Informatik > EC SPRIDE
20 Fachbereich Informatik > EC SPRIDE > Secure Software Engineering
Hinterlegungsdatum: 16 Mai 2013 07:27
Offizielle URL: http://www.informatik.tu-darmstadt.de/fileadmin/user_upload/...
ID-Nummer: TUD-CS-2013-0113
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