Tone, Robert ; Bornemann, Nils ; Mechau, Norman ; Al Helwi, Mustapha ; Sauer, Hans Martin ; Dörsam, Edgar (2012)
Impedance Spectroscopy as a Tool for the Detection of Mixed Layers in Solution Processed Semiconductors.
Large-area, Organic & Printed Electronics Convention (LOPE-C). Munich, Germany (19.06.2012-21.06.2012)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2012 |
| Autor(en): | Tone, Robert ; Bornemann, Nils ; Mechau, Norman ; Al Helwi, Mustapha ; Sauer, Hans Martin ; Dörsam, Edgar |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Impedance Spectroscopy as a Tool for the Detection of Mixed Layers in Solution Processed Semiconductors |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2012 |
| Ort: | München |
| Veranstaltungstitel: | Large-area, Organic & Printed Electronics Convention (LOPE-C) |
| Veranstaltungsort: | Munich, Germany |
| Veranstaltungsdatum: | 19.06.2012-21.06.2012 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 16 Fachbereich Maschinenbau 16 Fachbereich Maschinenbau > Institut für Druckmaschinen und Druckverfahren (IDD) |
| Hinterlegungsdatum: | 05 Jul 2012 11:34 |
| Letzte Änderung: | 26 Jan 2024 10:06 |
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