Schuessler, M. ; Mottet, B. ; Sydlo, C. ; Krozer, V. ; Hartnagel, H. L. ; Jakoby, Rolf (2000)
Model for the Decrease in HBT Collector Current under DC Stress based on Recombination Enhanced Defect Reactions.
11th ESREF-Symposium.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Schuessler, M. ; Mottet, B. ; Sydlo, C. ; Krozer, V. ; Hartnagel, H. L. ; Jakoby, Rolf |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Model for the Decrease in HBT Collector Current under DC Stress based on Recombination Enhanced Defect Reactions |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | Oktober 2000 |
| Ort: | Dresden, Germany |
| Veranstaltungstitel: | 11th ESREF-Symposium |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > Mikrowellentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) |
| Hinterlegungsdatum: | 27 Jan 2012 15:18 |
| Letzte Änderung: | 11 Dez 2019 07:29 |
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