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Entwicklung und messtechnische Charakterisierung von Komponenten für optische Schaltmodule

Mäncher, Martin :
Entwicklung und messtechnische Charakterisierung von Komponenten für optische Schaltmodule.
Technische Universität Darmstadt
[Haus-, Projekt- oder Studienarbeit], (2003)

Kurzbeschreibung (Abstract)

Zusammenfassung:

Die diesem Bericht zugrundeliegende Studienarbeit beschäftigt sich mit der Erweiterung eines Messplatzes zur Entwicklung und Charakterisierung von Komponenten für optische Schaltmodule. Eine weitere Aufgabe bestand in der Entwicklung von Blenden für optische Abschwächer, die über den Vorschubweg eine gleichmäßige und polarisationsunabhängige Reduzierung der Intensität erreichen.

Da die Charakterisierung der optischen Elemente sinnvoll nur an einem automatisierten Messplatz durchführbar ist, lag der Schwerpunkt der Tätigkeiten auf der Erweiterung und Automatisierung des vorhandenen Messplatzes. Der Messplatz wurde vom vollständigen Handbetrieb auf Steuerung und Messwertaufnahme mit LabView umgestellt. Weitere Messverfahren wurden zum Messplatz hinzugefügt.

Folgende Messverfahren können durchgeführt werden:

1. Messung der Einfügedämpfung durch Abschattung mit Blenden und Fehlanpassung bei der Einkopplung in Single-Mode-Lichtwellenleiter

2. Messung der Einfügedämpfung durch Abschattung mit Blenden

3. Intensitätsmessung mit einer Monitoreinheit

4. Intensitätsmessung der Monitoreinheit mit integrierter Auswertung

5. Referenzmessungen zur Kalibrierung von Monitoreinheiten

Typ des Eintrags: Haus-, Projekt- oder Studienarbeit
Erschienen: 2003
Autor(en): Mäncher, Martin
Titel: Entwicklung und messtechnische Charakterisierung von Komponenten für optische Schaltmodule
Sprache: Deutsch
Kurzbeschreibung (Abstract):

Zusammenfassung:

Die diesem Bericht zugrundeliegende Studienarbeit beschäftigt sich mit der Erweiterung eines Messplatzes zur Entwicklung und Charakterisierung von Komponenten für optische Schaltmodule. Eine weitere Aufgabe bestand in der Entwicklung von Blenden für optische Abschwächer, die über den Vorschubweg eine gleichmäßige und polarisationsunabhängige Reduzierung der Intensität erreichen.

Da die Charakterisierung der optischen Elemente sinnvoll nur an einem automatisierten Messplatz durchführbar ist, lag der Schwerpunkt der Tätigkeiten auf der Erweiterung und Automatisierung des vorhandenen Messplatzes. Der Messplatz wurde vom vollständigen Handbetrieb auf Steuerung und Messwertaufnahme mit LabView umgestellt. Weitere Messverfahren wurden zum Messplatz hinzugefügt.

Folgende Messverfahren können durchgeführt werden:

1. Messung der Einfügedämpfung durch Abschattung mit Blenden und Fehlanpassung bei der Einkopplung in Single-Mode-Lichtwellenleiter

2. Messung der Einfügedämpfung durch Abschattung mit Blenden

3. Intensitätsmessung mit einer Monitoreinheit

4. Intensitätsmessung der Monitoreinheit mit integrierter Auswertung

5. Referenzmessungen zur Kalibrierung von Monitoreinheiten

Freie Schlagworte: Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Logarithmierer, Messplatzautomatisierung, Photodiode, Polarisationsoptik, Steuerung Mit LabView
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen
Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen > Mikrotechnik und Elektromechanische Systeme
Hinterlegungsdatum: 31 Aug 2011 10:09
Zusätzliche Informationen:

EMK-spezifische Daten:

Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate,

Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 1521

Art der Arbeit: Studienarbeit

Beginn Datum: 15-08-2002

Ende Datum: 05-05-2003

Querverweis: 17/24 EMKS 1520

Studiengang: Elektrotechnik und Informationstechnik (ETiT)

Vertiefungsrichtung: Mikro- und Feinwerktechnik (MFT)

Abschluss: Diplom (MFT)

ID-Nummer: 17/24 EMKS 1521
Gutachter / Prüfer: Voit/Huisinga, Dipl.-Ing. Matthias ; Schlaak, Prof. Dr.- Helmut Friedrich
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