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Alkali ion intercalation in V2O5: Preparation and laboratory characterization of thin films produced by ALD

Donsanti, F. ; Kostourou, K. ; Decker, F. ; Ibris, N. ; Salvi, A. M. ; Liberatore, M. ; Thissen, A. ; Jaegermann, W. ; Lincot, D. (2006)
Alkali ion intercalation in V2O5: Preparation and laboratory characterization of thin films produced by ALD.
In: Surface and Interface Analysis, 38 (4)
doi: 10.1002/sia.2237
Artikel, Bibliographie

Kurzbeschreibung (Abstract)

Thin films of V2O5 act as performant alkali ion storage material, with applications mostly in Li microbatteries or in electrochromic windows. Oxide films less than 100 nm thick have been obtained by the Atomic Layer Deposition (ALD) method. The alkali ion insertion has been performed either via an electrochemical cathodic reaction in a non-aqueous solvent, or from the vapour phase in a vacuum chamber at RT. Both experimental procedures promoted the insertion of large amounts of the alkali ion with consequent reduction of the oxidation state of V, from 5+ to 4+ and even to 3+, measured with XPS-UPS. The reversibility of this reaction was a function of the amount of ionic charge inserted, of the substrate used (FTO, Cr-coated glass) and of the heat treatment adopted for the ALD film.

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2006
Autor(en): Donsanti, F. ; Kostourou, K. ; Decker, F. ; Ibris, N. ; Salvi, A. M. ; Liberatore, M. ; Thissen, A. ; Jaegermann, W. ; Lincot, D.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Alkali ion intercalation in V2O5: Preparation and laboratory characterization of thin films produced by ALD
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: April 2006
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Surface and Interface Analysis
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 38
(Heft-)Nummer: 4
DOI: 10.1002/sia.2237
Kurzbeschreibung (Abstract):

Thin films of V2O5 act as performant alkali ion storage material, with applications mostly in Li microbatteries or in electrochromic windows. Oxide films less than 100 nm thick have been obtained by the Atomic Layer Deposition (ALD) method. The alkali ion insertion has been performed either via an electrochemical cathodic reaction in a non-aqueous solvent, or from the vapour phase in a vacuum chamber at RT. Both experimental procedures promoted the insertion of large amounts of the alkali ion with consequent reduction of the oxidation state of V, from 5+ to 4+ and even to 3+, measured with XPS-UPS. The reversibility of this reaction was a function of the amount of ionic charge inserted, of the substrate used (FTO, Cr-coated glass) and of the heat treatment adopted for the ALD film.

Zusätzliche Informationen:

SFB 595 A3

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung
Zentrale Einrichtungen
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > A - Synthese
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > A - Synthese > Teilprojekt A3: Grenzflächen und dünne Schichten von Ionenleitern: Elektronische Struktur, elektrochemische Potentiale, Defektbildung und Degradationsmechanismen
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio)
Hinterlegungsdatum: 04 Aug 2011 09:13
Letzte Änderung: 23 Mär 2015 16:34
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