Edelmann, F. ; Hahn, H. ; Seifried, S. ; Alof, S. ; Hoche, H. ; Balogh, Adam G. ; Werner, P. ; Zakrzewska, K. ; Radecka, M. ; Pasierb, P. ; Chack, A. ; Mikhelashvili, V. ; Eisenstein, G. (2000)
Structural evolution of SnO2-TiO2 nanocrystalline films for gas sensors.
In: Materials Science and Engineering B, 69
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Edelmann, F. ; Hahn, H. ; Seifried, S. ; Alof, S. ; Hoche, H. ; Balogh, Adam G. ; Werner, P. ; Zakrzewska, K. ; Radecka, M. ; Pasierb, P. ; Chack, A. ; Mikhelashvili, V. ; Eisenstein, G. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Structural evolution of SnO2-TiO2 nanocrystalline films for gas sensors |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 14 Juni 2000 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Materials Science and Engineering B |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 69 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Materialanalytik 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 14 Jun 2011 14:12 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:48 |
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