Stark, R. W. ; Drobek, T. ; Heckl, W. M. (1999)
Tapping mode atomic force microscopy and phase-imaging in higher eigenmodes.
In: Applied Physics Letters, 74 (22)
doi: 10.1063/1.123323
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1999 |
| Autor(en): | Stark, R. W. ; Drobek, T. ; Heckl, W. M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Tapping mode atomic force microscopy and phase-imaging in higher eigenmodes |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1999 |
| Verlag: | American Institute of Physics |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 74 |
| (Heft-)Nummer: | 22 |
| DOI: | 10.1063/1.123323 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Zentrale Einrichtungen ?? fb99_csi~fg5 ?? |
| Hinterlegungsdatum: | 22 Jun 2010 09:22 |
| Letzte Änderung: | 23 Apr 2020 09:51 |
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