Stark, R. W. ; Heckl, W. M. (2003)
Higher harmonics imaging in tapping mode atomic force microscopy.
In: Review of Scientific Instruments, 74 (12)
doi: 10.1063/1.1626008
Artikel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2003 |
Autor(en): | Stark, R. W. ; Heckl, W. M. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Higher harmonics imaging in tapping mode atomic force microscopy |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 2003 |
Verlag: | American Institute of Physics |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Review of Scientific Instruments |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 74 |
(Heft-)Nummer: | 12 |
DOI: | 10.1063/1.1626008 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Zentrale Einrichtungen ?? fb99_csi~fg5 ?? |
Hinterlegungsdatum: | 21 Jun 2010 11:23 |
Letzte Änderung: | 06 Apr 2020 15:18 |
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