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Topography-induced forces in amplitude modulated dynamic atomic-force microscopy

Stark, R. W. (2009)
Topography-induced forces in amplitude modulated dynamic atomic-force microscopy.
In: Journal of Scanning Probe Microscopy, 4 (1)
doi: 10.1166/jspm.2009.1001
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2009
Autor(en): Stark, R. W.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Topography-induced forces in amplitude modulated dynamic atomic-force microscopy
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1 Juni 2009
Verlag: American Scientific Publishers
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of Scanning Probe Microscopy
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 4
(Heft-)Nummer: 1
DOI: 10.1166/jspm.2009.1001
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Zentrale Einrichtungen
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Hinterlegungsdatum: 04 Jun 2010 11:33
Letzte Änderung: 27 Apr 2020 14:52
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